Proyección de franjas con corrimiento de fase
aplicación a las ciencias forenses
Palabras clave:
corrimiento fase, proyección franjas, interferómetro MachZehnderResumen
Uno de los problemas comunes en varias ramas de la investigación forense es la necesidad de realizar mediciones y comparaciones que involucran superficies microscópicas. Por lo general la tecnología disponible para este tipo de medidas está limitada por el elevado costo de los equipos comerciales y también por sus estrechos rangos de aplicación.
En este trabajo se propone utilizar técnicas de proyección de franjas con corrimiento de fase para reconstruir la topografía de pequeñas superficies. Se muestra además cómo se aborda la determinación de portador y el problema del desenvolvimiento de fase. La utilidad de esta técnica se ilustra con varios ejemplos particulares propios de la actividad forense de nuestro país.
Biografía del autor/a
Óscar J. Rincón, Universidad Nacional de Colombia
Grupo de óptica aplicada, Departamento de Física, Universidad Nacional de Colombia, sede Bogotá.
John J. Nicholls, Universidad Autónoma de Colombia
Departamento de Ingeniería Electrónica, Universidad Autónoma de Colombia
Patricia Gaviria, Instituto Nacional de Medicina Legal y Ciencias Forenses
Química farmacéutica, Especialista en Ciencias Forenses y Documentología de la Universidad de Antioquia, Departamento de Grafología Documentología del Instituto Nacional de Medicina Legal y Ciencias Forenses.
